Scan X Ellipse計算機X射線成像系統

簡要描述：Scan X Ellipse計算機X射線成像系統提供靈活性的成像板掃描?方式,可掃描任意?長度、不同形狀的成像板,還能同時掃描多張成像板,并能對多張成像板進?一次性擦除。

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詳細介紹

Scan X Ellipse計算機X射線成像系統

?分辨率可達12.5 μm

- 基本空間分辨率可達40μm

- IP板重復使?用多達25000次

- BAM實驗室認證產品

- 灰度等級可達16 bit

- 顯著減少曝光時間

- 操作簡單、維護?方便

- 以太?數據交換

Scan X Ellipse計算機X射線成像系統

可讓?用戶定義掃描分辨率。掃描分辨率從20 μm到100 μm可調,既適用于高精度焊縫檢測,也能滿?短曝光時間、檢測速度快的應?場合。?極調節的掃描分辨率確保能以掃描參數滿?各種檢測應?領域的需求。

高分辨率成像板和ScanX Discover HR掃描儀相結合,基本空間分辨率可以達到40 μm。

無論檢測環境是在生產現場或是實驗室,ScanX Discover HR*的特性、超高的圖像質量以及多功能性可滿足各種苛刻的需求。通過選擇不同成像板類型,調整掃描參數,用戶可以自定義圖像質量和曝光時間來完成各種檢測。

ScanX Discover HR提供靈活性的成像板掃描?方式,可掃描任意?長度、不同形狀的成像板,還能同時掃描多張成像板,并能對多張成像板進?一次性擦除。

ScanX View軟件與掃描儀兼容性強,內含的?工具有助于將檢測結果調節到顯?狀態,且結果反復可調。

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